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產品資料
1J1020介電常(chang)數(shu)測試(shi)治具
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介電及薄膜測試治具 1J1020測試治具配合WK6500B系列精密阻抗分析儀或者在WK6500P高頻LCR表上使用，*高頻率可達40MHz。 夾具設計用于夾持平面圓盤狀材料，材料直徑不小于38mm，厚度不大于15mm。 1J1020夾具的兩端電極之間的間距是可調整的，并通過千分尺測量。 頻率范圍：20Hz~40MHz

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介電及薄膜測試(shi)治(zhi)具

1J1020測(ce)試治具(ju)配(pei)合WK6500B系列精密阻抗分析儀或者在WK6500P高頻(pin)(pin)LCR表上使用，*高頻(pin)(pin)率可達40MHz。

夾具設計(ji)用于夾持平面圓盤狀材料(liao)，材料(liao)直徑不(bu)小(xiao)于38mm，厚(hou)度(du)不(bu)大于15mm。

1J1020夾具的(de)兩端電極之(zhi)間的(de)間距是可調整的(de)，并通過千分尺測(ce)量。

頻率范圍：20Hz~40MHz