●WK65120B阻(zu)抗分析儀120MHz產品特色
1.簡易(yi)的TFT觸屏操作，10分鐘內輕(qing)易(yi)上手
2.電(dian)介質、壓電(dian)片及石英(ying)晶(jing)體測試解決方案
3.30 ms超高(gao)速測試(shi)速度(du)
4.等效(xiao)Rdc可(ke)高(gao)度精準四線式(shi)測(ce)試，量測(ce)到0.01mΩ
5.0.05%基本**度
6.可內(nei)建0-100mA
+/- 40V，外加可至60A DC Bias
7.可將測試波形儲(chu)存成CSV格式，放大、縮(suo)小及MARKER功能
8.20Hz~120MHz，七(qi)種(zhong)機型，可隨時升級
，*高(gao)升級到120MHz
9.直覺的用戶操作接口，USB、LAN、GPIB及HANDLER
10.可(ke)使用鼠標及(ji)鍵盤(pan)操控，也可(ke)外接打印(yin)機及(ji)使用USB接口儲(chu)存(cun)數據
11.具等效電路(lu)仿(fang)真功能，內建(jian)同(tong)頻率LCR Meter一(yi)臺(tai)
準(zhun)確快速的進(jin)行元件測試(shi),±0.05%基本**度(du)。
精準和多功能性(xing)使WK6500系(xi)列成為各種(zhong)不同類型的工作和應用(yong)程式(shi)的理想選擇。使用(yong)者包括被動元件設計師，電介體、絕緣體的設計測(ce)試(shi)人員，及生產線的測(ce)試(shi)人員。
工程師需要在高頻率的(de)狀況下以極高的(de)精度來定義元件的(de)特性，WK6500B系列精密阻抗分析(xi)儀(yi)成為您準確易(yi)用的(de)理想測試工具。
●測試參數(shu)
電(dian)(dian)(dian)容(C),電(dian)(dian)(dian)感(L),電(dian)(dian)(dian)阻(R),電(dian)(dian)(dian)導(G),電(dian)(dian)(dian)納(na)(na)(B),電(dian)(dian)(dian)抗(X),損耗因數(shu)(D),品質因數(shu)(Q),阻抗(Z),導納(na)(na)(Y),相位角(jiao)(θ)、介電(dian)(dian)(dian)常(chang)數(shu)（ε′ ??相對介電(dian)(dian)(dian)常(chang)數(shu)實(shi)部、ε′′r相對介電(dian)(dian)(dian)常(chang)數(shu)虛部、Dε相對介電(dian)(dian)(dian)損耗）、磁導率（μ ′ ??相對磁導率實(shi)部、μ′′r相對磁導率虛部、Dμ相對磁導率損耗）
●高(gao)精度量測
電容C,電感L及阻抗Z基本**度(du)(du)為±0.05%。損耗因數D**度(du)(du)為±0.0005及品質因數Q**度(du)(du)為±0.05%。
●元件圖形掃描
WK6500B系列(lie)精密阻抗分析儀不僅(jin)提供高(gao)頻(pin)率，高(gao)精度的量測(ce)。該設備(bei)還是一個(ge)包含豐富特性的元件分析儀。
曲(qu)線掃描可依據頻(pin)率、電壓值(zhi)和直流偏流源同(tong)時在清(qing)晰度高的(de)大型彩色(se)屏幕上(shang)顯示任意兩種參數的(de)曲(qu)線。顯示格式包(bao)括串聯(lian)或并聯(lian)等效電路(lu)。
單(dan)測某一頻率時可以(yi)從曲線掃描轉換成標準LCR表(biao)讀(du)值模式。
●可變的輸出和偏(pian)壓源
交(jiao)流輸出可選高達(da)(da)1V或20mA，實現在真實操(cao)作環境中來(lai)評(ping)估元件(jian)。可變偏壓直(zhi)流源可提(ti)供達(da)(da)100mA的電(dian)流.
●外部控制
在品管或制作(zuo)檔譜的過(guo)程(cheng)中可通(tong)過(guo)GPIB介面來控制儀器(qi)和(he)收(shou)取(qu)讀值.
網端介(jie)面也具有同樣的(de)控制儀(yi)器(qi)和(he)傳(chuan)輸資料(liao)的(de)功能 – 使儀(yi)器(qi)能適(shi)應許(xu)多(duo)不(bu)同的(de)測試環境(jing).
●多(duo)選擇的介面
VGA介面可連接(jie)(jie)到PC顯示(shi)器或投影機(ji),這(zhe)種(zhong)功(gong)能為生產環(huan)境或教(jiao)學(xue)培訓(xun)都提供無法衡量的(de)價值.本機(ji)還可通過外接(jie)(jie)鍵(jian)盤和滑鼠來操(cao)控,任何PS2或USB鍵(jian)盤和滑鼠都能簡單(dan)的(de)接(jie)(jie)插(cha)到系統(tong)中,提供控制和操(cao)作儀器的(de)另一種(zhong)可行方式.
●資料儲(chu)存和提取
所有的測(ce)試結果及設制都可(ke)以通過網(wang)路介面或(huo)USB閃(shan)盤來儲存.
●分類處理介面
Bin Handler為可(ke)選設制,通過25相D型接頭提供(gong)獨立(li)(24V)和非獨立(li)(5V)的信號.
●印表機輸出
測試(shi)結果可(ke)通過幾種不同的(de)途經列印(yin)(yin)(yin)出(chu),其(qi)中(zhong)包括直接(jie)列印(yin)(yin)(yin)至HP-PCL匹配的(de)圖形印(yin)(yin)(yin)表機, EPSON相匹配的(de)文(wen)字印(yin)(yin)(yin)表機或(huo)直接(jie)通過儀(yi)器的(de)網口經局域網列印(yin)(yin)(yin).
●待測元件連接
可(ke)通過面板的(de)(de)BNC接(jie)頭來實(shi)現倆端,三端或四埠的(de)(de)連接(jie)以及可(ke)能的(de)(de)接(jie)地(di)狀(zhuang)況.備有許(xu)多的(de)(de)可(ke)選(xuan)附(fu)件以供不同的(de)(de)測試需(xu)要.
●充(chong)電電容保(bao)護
高精密的(de)測試儀(yi)器可能在使用過程中被(bei)已充電的(de)電容裝置(zhi)所(suo)損壞,造成昂貴的(de)維修(xiu)及不必要(yao)的(de)停產. 6500系列有內置(zhi)的(de)保護來避(bi)免這種情況(kuang)發生.
●綜合,**的高頻(pin)測試
“綜合(he),**的高頻測試(shi)”使該系列產品是高要求測試(shi)的優(you)良選擇.
